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專利技術

中國專利審查信息查詢

      發明專利名稱:重量法物理吸附儀
    專利號:ZL201410128824.7
     保護點:
          ◆ 采用重量法原理確定氣體及蒸汽吸脫附量的結構;
          ◆ 多樣品測試結構;
          ◆ 蒸汽吸附與氣體吸附切換結構;
          ◆ 飽和蒸汽壓測試結構; 
 
      專利名稱:重量法物理吸附儀
    專利號:ZL201420155921.0
     保護點:
          ◆ 采用重量法原理確定氣體及蒸汽吸脫附量的結構;
          ◆ 多樣品測試結構;
          ◆ 蒸汽吸附與氣體吸附切換結構;
          ◆ 飽和蒸汽壓測試結構; 
 
 

    專利名稱:防止真空系統污染的重量法物理吸附儀
    專利號:ZL201420156173.8
     保護點:
         ◆ 具有防止真空系統被蒸汽污染的冷阱裝置;
         ◆ 該冷阱裝置和重量法蒸汽吸附儀為一體,為重量法蒸汽吸附儀的組成部分之一;
         ◆ 該冷阱裝置可去除蒸汽分子等高沸點氣體,提高真空度;

 

 

    專利名稱:加熱脫氣爐
    專利號:ZL201420148362.0
     保護點:
         ◆ 具有真空隔熱層的加熱爐;
         ◆ 采用真空隔熱層加高溫隔熱棉的組合隔熱方式,相對普通保溫棉隔熱或空氣隔熱效果得到明顯改善,減小熱量損失,降低對附近部件溫度影響;防燙,安全;
         ◆ 頂部出線結構;

      專利名稱:蒸餾提純裝置及重量法物理吸附儀
    專利號:ZL201420155044.7
    
保護點:
        ◆ 具有可對液體有機試劑進行蒸餾提純裝置的重量法蒸汽吸附儀;
        ◆ 該蒸餾提純裝置和重量法吸附儀為一體式結構,為重量法吸附儀的組成部分之一;
        ◆ 該蒸餾提純裝置可程序控制自動進行;
      專利名稱:能在線加注液氮的重量法蒸氣吸附儀 
    ?專利號:ZL 201520633597.3
    保護點:
        ◆ 具有在線加注冷阱液氮的重量法蒸氣吸附儀;
        ◆ 當冷阱裝置中液氮過少時在儀器外部進行液氮加注;
        ◆ 避免了加液氮的過程中由于開關恒溫室的門而影響封閉恒溫系統的問題。
      專利名稱:以氣控閥代替電磁閥的真密度儀 
    ?專利號:ZL201220140709.8
    保護點:
        ◆ 氣控閥的打開與關閉由壓縮氣體驅動,無電磁線圈,所以無發熱,從而提高恒溫區域溫度穩定性;
        ◆  采用零發熱的氣控閥代替有發熱的電磁閥的真密度儀,消除了電磁閥發熱對測試氣體溫度穩定的影響;消除了該誤差來源,提高了測試精度。 
      專利名稱:具有以樣品池直接作為測試腔的真密度儀 
    專利號:ZL201120436207.5
     保護點:
         ◆ ?樣品池直接作為測試腔的“下裝式”的結構;不采用“上裝式”的“樣品池套裝”結構,即測試腔桶內再放入盛樣品的樣品池的結構;
         ◆ 樣品池直接作為樣品測試腔,提高了樣品測試腔的體積利用率,從而使測試精度得以提高;
         ◆ “下裝卡口式”的樣品池安裝結構,可以方便的適應微體積和大體積裝樣的需求,擴大了儀器對樣品外觀體積的適應范圍。
      專利名稱:含有氣源預恒溫管真密度儀
    專利號:ZL201220708191.3
     保護點:
          ◆ 具有使進入基準腔的測試氣體預先恒溫的結構;
          ◆ 全自動程序化恒溫模式,恒溫精度誤差<0.1℃;
          ◆ 程序化控制恒溫過程,并自動進入測試過程。 
      專利名稱:真密度及孔隙率分析儀內方樣品池
    專利號:ZL201420149458.9
     保護點:
         ◆具有專門針對發泡材料符合國標GB/T 10799-2008 而設計的開閉孔率專用樣品池,即內方樣品池;
         ◆ 內方樣品池的內部為立方體空間設計,可使樣品池利用率達到 80%以上(國標要求 15%以上),大大高于普通圓柱內腔樣品池;
         ◆ 相比圓柱形,立方體形樣品更容易切割;
      專利名稱:真密度分析儀(外觀設計專利)
    專利號:ZL 201230104221.5
     保護點:
         ◆采用“下裝式”樣品池安裝結構,提高對樣品池體積的適應性;
         ◆ 全恒溫結構,所有部件處于恒溫室內,提高測試準確度。
      專利名稱:具有真空助潤裝置的泡壓法濾膜孔徑分析儀
    專利號:ZL201420148359.9
     保護點:
         ◆ 采用真空助潤,能夠快速、高效的浸潤樣品,提高浸潤效率,提高準確度。
         ◆ 快速開合結構;
         ◆ 該真空助潤裝置與主機為一體化
      專利名稱:具有可適應多種樣品尺寸的樣品池的泡壓法濾膜孔徑分析儀 
    專利號:ZL201420148785.2
     保護點:
          ◆ 無需頂部進氣管的樣品池結構,方便安裝和拆卸。
          ◆ 單樣品池(樣品安裝位)可適應多種尺寸及類型的樣品的結構。
          ◆ 通過不同的樣品支架實現轉換的結構,可測試不同直徑的薄膜,無需多個樣品池;
          ◆ 該樣品池(樣品安裝位)還可以安裝用于測試中空纖維膜的夾具,實現中空纖維膜的測試;
      專利名稱:具有基準腔恒溫裝置的靜態法比表面及孔徑分析儀
    專利號:ZL201420148783.3
     保護點:
          ◆ 具有基準腔恒溫裝置;
          ◆ 通過設置基準腔恒溫裝置可確保基準腔處于恒溫,不受各器件溫度變化影響,消除環境溫度變化對基準腔體積及各個器件的影響;
          ◆ 減小了傳感器的溫度漂移而產生的誤差。
      專利名稱:加蓋裝置及靜態法比表面及孔徑分析儀
    專利號:ZL201420148358.4
     保護點:
          ◆ 具有液氮杯自動加保溫蓋的結構,取代了人工加蓋,提高了儀器自動化程度;
          ◆ 保溫蓋能有效的減少液氮的揮發;同時也可避免水蒸氣在杜瓦杯口和樣品管上冷凝結冰。
          ◆ 保溫蓋可隨液氮杯的伺服調節而移動;
      專利名稱:具有除塵防污染裝置的靜態法比表面及孔徑分析儀
    專利號:ZL201320045881.X
     保護點:
          ◆ 具有渦旋降塵原理的硬件防抽飛裝置;
          ◆ 能在防止粉塵污染的同時不降低氣體的流導,避免阻隔式濾網裝置阻隔粉塵但卻造成流導小而無法獲得高真空的問題;
          ◆ 結合軟件防抽飛程序徹底消除易揮發樣品在高真空時的揚析沸騰現象,從而避免了揮發物污染閥門管路后造成系統氣密性下降的情況。
      專利名稱:具有風熱助脫裝置的比表面儀
    專利號:ZL200920110451.5 
     保護點:
 
         ◆ 具有可加快樣品管恢復常溫的吹風裝置;通過對剛離開液氮處于低溫狀態的樣品管,吹常溫風,使樣品管快速達到常溫狀態;
          ◆ 該“風熱助脫”裝置,相比增加前,可使脫附色譜峰形變得高而銳,從而達到提高測試分辨率和精度的目的;
          ◆ 該裝置的啟動和停止由程序自動控制;該裝置和儀器主機為一個整體;
      專利名稱:具有原位吹掃裝置的比表面儀
    專利號:ZL200920110453.4
     保護點:
        
 ◆ 該脫氣裝置與儀器主機為一個整體(非分體式),實現了試樣原位處理;
          ◆ 處理結束無需拆卸轉移樣品管,樣品與空氣零接觸;
          ◆ 保證了樣品預處理的高效性,有效提高測試精度;
      專利名稱:氮氣濃度檢測器
    專利號:ZL200920110455.3
     保護點:
          ◆ 色譜法氮氣分壓檢測系統,相對流量傳感器,精度提高10倍;
          ◆ 使氮氣濃度控制精度和檢測精度均達到萬分之一,提高測試準確性;
      專利名稱:比表面儀U型樣品管
    專利號:ZL200920110452.X
     保護點:
          ◆  U樣品管一端為進氣口,另一端為出氣口,U形樣品管的進氣口一端的管徑大于出氣口端的管徑;
          ◆  U型樣品管的進氣口端內徑大,方便裝填樣品;出氣口端內徑小,減小“紊流”效應對測試精度造成的影響,可提高測試精度。
          ◆  該大進口小出口的結構,在不影響測試精度的前提下,增加了裝樣的方便性。
      專利名稱:氣體恒溫裝置及比表面儀
    專利號:ZL200920110454.9
     保護點:
          ◆ 該裝置為動態色譜法比表面的一部分,可達到降低環境影響因素,從而提高儀器準確度的目的;
          ◆ 通過讓測試氣體在進入檢測器前通過低溫恒溫管,使氣體降溫并恒溫;
          ◆ 該檢測器恒溫裝置,使檢測器的零點漂移降低到<0.1mV/10min ,實現提高測試結果的準確性與穩定性的目的;
      專利名稱:氣體凈化冷阱及比表面儀  【如上圖】
    專利號:ZL200920110450.0 
     保護點:
          ◆ 該氣體凈化冷阱為比表面的一部分,與比表面儀為一個整體;
          ◆ 該氣體凈化冷阱對吸附質氣體和載氣進行凈化,使氣體純度提高1個數量級以上,從而達到提高測試結果精度的目的;
          ◆ 該氣體凈化冷阱,還具有降低吸附質氣體溫度,從而提高熱導池檢測器靈敏度的作用;
      專利名稱:比表面及孔徑分析儀機箱
    專利號:ZL 201030177578.7
     保護點:
          ◆ 脫氣系統與分析系統設置在同一臺比表面及孔徑分析儀上,脫氣系統位于儀器的左邊,分析系統位于儀器的右邊,無需額外配備脫氣處理裝置;
          ◆ 脫氣系統上設置獨立的溫度控制裝置;
      專利名稱:外壓進氣測試中空纖維膜孔徑的夾具及泡壓法孔徑分析儀
    專利號:ZL 201030177578.7
     保護點:
          ◆ 可以采用外壓進氣方式測試中空纖維膜的夾具;
          ◆ 該夾具可與分析儀器快速密封鏈接的結構;
          ◆  可減小膜絲被壓變形,提升纖維膜,尤其是外壓纖維膜孔徑測試的準確性;
          ◆ 能夠更加真實的反映外壓膜的過濾性能,使得測試出來的數值與實際應用更加具有可比性;
      專利名稱:飽和蒸氣壓螺旋P0管及靜態法比表面及孔徑分析儀
    專利號:ZL201620716311.2
     保護點:
          ◆ 飽和蒸汽壓管采用螺旋狀的P0管,與儀器主機連接;
          ◆ 螺旋P0管能夠更快的達到液氮溫度,使得測試的飽和蒸汽壓更接近真實值,提高測試精度;
      專利名稱:具有脫氣位濾塵袋裝置的靜態法物理吸附儀
    專利號:
ZL201620714986.3
     保護點:
          ◆ 能夠在不降低現有氣體流導前提下實現粉塵過濾功能;
          ◆ 徹底杜絕粉末樣品對儀器內部結構的污染;
          ◆ 抽真空脫氣時間縮短、效果提高;
 

京公網安備 11010802025944號

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